LST-332普通四探針方阻電阻率測試儀

1. 四探針方阻電阻率測試儀描述：

   采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語言版本.

二.參照標準：

   硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國家標準設計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

三.適用范圍：

適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析半導體材料質量的工具；液晶顯示，自動測量和系數補償，并帶有溫度補償功能，自動轉換量程；采用AD芯片控制，恒流輸出，選配：PC軟件，保存和打印數據，生成報表

用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試等相關產品

四.型號及參數

配套方案：解決各材料狀態(tài) --固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài)、顆粒狀 電阻、電阻率、電導率測量

縱橫金鼎儀器-------專注于新材料測量與分析儀器解決方案  

----解決材料：

導體、半導體、絕緣材料常溫及高溫等環(huán)境下電性能分析.

----我們一直在做：

研發(fā)、生產、銷售研發(fā)、生產、銷售、租賃、實驗室樣品分析及后延擴展服務.