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介電常數(shù)測試儀您了解多少?實心電絕緣材料的交流損耗特性和 電容率(介電常數(shù))的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法1 本標(biāo)準(zhǔn)是以固定代號D150發(fā)布的。其后的數(shù)字表示原文本正式通過的年號;在有修訂的情況下,為上一次的修訂年號;圓括號中數(shù)字為上一次重新確認(rèn)的年號。上標(biāo)符號(ε)表示對上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。
絕緣紙介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù),高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀 1.Q值測量 a.Q值測量范圍:2~1023; b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;
介電常數(shù)測試儀詳細(xì)介紹有時在超過1000V的電壓下試驗,則會引起一些與電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)無關(guān)的效應(yīng),對此不予論述。
介電常數(shù)測定儀(介質(zhì)損耗測試儀)電容率(介電常數(shù))的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法1 本標(biāo)準(zhǔn)是以固定代號D150發(fā)布的。其后的數(shù)字表示原文本正式通過的年號;在有修訂的情況下,為上一次的修訂年號;圓括號中數(shù)字為上一次重新確認(rèn)的年號。上標(biāo)符號(ε)表示對上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。
GB/T1409介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀高頻 Q 表作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)高的160MHz。 LJD-C高頻 Q 表采用了多項技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能
介電常數(shù)測定儀源頭符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T1409、GB/T5594 產(chǎn)品用途:固體、液體絕緣材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試 適用材料:橡膠塑料薄膜、陶瓷玻璃、絕緣材料、高分子材料等 測試范圍:10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ