介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀用于測試電工材料的介電系數(shù)和損耗角正切值,也用來測試高頻阻抗元器件(電感、電容和其他諧振組件)的品質(zhì)因數(shù)即:Q值。相對阻抗電橋法,高頻震蕩法的測試結(jié)果更真實地反映了材料器件在高頻工作狀態(tài)下的特性。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀的測試回路可用被測元件L、主調(diào)諧電容C、回路的損耗電阻R構(gòu)成的串聯(lián)電路來等效,當測試回路諧振時(高頻信號源輸入信號的頻率為諧振頻率w0),主調(diào)電容上的電壓是信號源輸入電壓的Q倍,或Q=w0L/R=1/w0CR,顯然信號源頻率w0的穩(wěn)定度和精度、主調(diào)電容C的精度和分辨率、測試回路的高頻損耗R決定了儀器的品質(zhì)。模擬式的信號源穩(wěn)定性差,主調(diào)電容的分辨率和讀數(shù)精度低,使用復(fù)雜,并且不可避免地存在主觀的操作誤差。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀特點:
1、介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗方法》(等效采用IEC60250)設(shè)計和制造的,并符合JB7770等試驗方法。
2、介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀適用于在高頻(1MHz)下絕緣材料的測試。
3、介電常數(shù)又稱電容率或相對電容率,是表征電介質(zhì)或絕緣材料電性能的一個重要數(shù)據(jù),常用ε表示。介質(zhì)在外加電場時會產(chǎn)生感應(yīng)電荷而削弱電場,原外加電場(真空中)與終介質(zhì)中電場比值即為介電常數(shù)。其表示電介質(zhì)在電場中貯存靜電能的相對能力,例如一個電容板中充入介電常數(shù)為ε的物質(zhì)后可使其電容變大ε倍。介電常數(shù)愈小絕緣性愈好。如果有高介電常數(shù)的材料放在電場中,場的強度會在電介質(zhì)內(nèi)有可觀的下降。介電常數(shù)還用來表示介質(zhì)的極化程度,宏觀的介電常數(shù)的大小,反應(yīng)了微觀的極化現(xiàn)象的強弱。氣體電介質(zhì)的極化現(xiàn)象比較弱,各種氣體的相對介電常數(shù)都接近,液體、固體的介電常數(shù)則各不相同,而且介電常數(shù)還與溫度、電源頻率有關(guān)。
4、物質(zhì)介電常數(shù)具有復(fù)數(shù)形式,其實部即為介電常數(shù),虛數(shù)部分常稱為耗散因數(shù)。
5、通常將耗散因數(shù)與介電常數(shù)之比稱作耗散角正切,其可表示材料與微波的耦合能力,耗散角正切值越大,材料與微波的耦合能力就越強。例如當電磁波穿過電解質(zhì)時,波的速度被減小,波長也變短了。