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簡要描述:直讀介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH,15MHz時電感取1.5uH。
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LJD介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)使用方法
直讀介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
一 介電常數(shù)測試方法與步驟
1. 把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。
2. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH,15MHz時電感取1.5uH。
3. 被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間(當材料介電大于6的情況下建議材料≥2mm),樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,樣品要盡可能平整。
4. 調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,使S916測試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設置為0。
Σ=D2 / D4
直讀介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
二 介質(zhì)損耗測試方法與步驟
1. 主機C0值的計算方式:
機構(gòu)電容的有效電容為:Cz= C4-C3
分布電容為機構(gòu)電容CZ和電感分布電容CL(參考電感的技術(shù)說明)的和
介質(zhì)損耗系數(shù)/介質(zhì)損耗正切值為
2. 把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。
3. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH,15MHz時電感取1.5uH。
4. 被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,樣品要盡可能平直。
5. 調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,使S916測試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設置為0。再松開兩片極片,把被測樣品夾入兩片極片之間,調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,到的平板電容極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時要用S916測試夾具的,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2,改變主機上的主調(diào)電容容量,使主機處于諧振點(Q值大值),然后按一次 主機上的小數(shù)點(tgδ)鍵,在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C0= x x x(C0=Cz+CL電感分布電容)需要手動輸入,記住厚度D2的值,此時顯示數(shù)值為C2和Q2。
6. 取出S916測試夾具中的樣品,(保持S916測試夾具的平板電容極片之間距不變)這時主機又失去諧振(Q值變?。?,再改變主機上的主調(diào)電容容量,使主機重新處于諧振點(Q值大值)上。
7. 注意:多次測試同一個材料時,要求保持每次材料厚度的讀數(shù)一致。
8. 第二次按下 主機上的小數(shù)點(tgδ)鍵,顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1,同時顯示介質(zhì)損耗系數(shù)tn =.x x x x x ,即完成測試。
9. 出錯提示,當出現(xiàn)tn = NO 顯示時,說明測試時出現(xiàn)了差錯,發(fā)生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯誤情況。
附錄 一
顯示數(shù)據(jù)介紹:
C1 | 材料拿出后,諧振時測得的電容值 |
C2 | 材料在夾具中,諧振時測得的電容值 |
Q1 | 材料拿出后,諧振時測得的Q值 |
Q2 | 材料在夾具中,諧振時測得的Q值 |
CZ | 主機+測試夾具測得的結(jié)構(gòu)電容值 |
CL | 標準電感的分布電容值 |
C0 | 結(jié)構(gòu)電容值+電感的分布電容值 |
D2 | 材料的厚度 |
tn | 介質(zhì)損耗系數(shù)/介質(zhì)損耗正切值 |
附錄 二
LKI-1電感組
LKI-1型電感組共包括不同電感量的電感9個,凡儀器在進行測試線圈的分布電容量,電容器的電容量,高頻介質(zhì)損耗,高頻電阻和傳輸線特性阻抗等高頻電路和元件的電性能時,必須用電感組作輔助工具。
本電感組有較高Q值,能使儀器測量時得到尖銳諧振點,因而增加其測量的準確度,各電感的有關(guān)數(shù)據(jù)如下表:
電感No | 電感量 | 準確度% | Q值≥ | 分布電容約略值 | 諧振頻率范圍 MHz | 適合介電常數(shù)測試頻率 | |
LJD-B | LJD-C | ||||||
1 | 0.1μH | ±0.05μH | 180 | 5pF | 20~70 | 31~103 | 50MHz |
2 | 0.5μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 10~37 | 14.8~46.6 | 15MHz |
3 | 2.5μH | ±5% | 200 | 5pF | 4.6~17.4 | 6.8~21.4 | 10MHz |
4 | 10μH | ±5% | 200 | 6pF | 2.3~8.6 | 3.4~10.55 | 5MHz |
5 | 50μH | ±5% | 180 | 6pF | 1~3.75 | 1.5~4.55 | 1.5MHz |
6 | 100μH | ±5% | 200 | 6pF | 0.75~2.64 | 1.06~3.20 | 1MHz |
7 | 1mH | ±5% | 150 | 8pF | 0.23~0.84 | 0.34~1.02 | 0.5MHz |
8 | 5mH | ±5% | 130 | 8pF | 0.1~0.33 | 0.148~0.39 | 0.25MHz |
9 | 10mH | ±5% | 90 | 8pF | 0.072~0.26 | 0.107~0.32 | 0.1MHz |
10 | 15nH | ±10% | 40 | 0 |
| ≥100 | 100MHz |
附錄 三
一 如何測試帶粘性超薄絕緣材料的介電常數(shù)
1 用錫箔紙覆膠在材料的兩面,上下層錫箔紙不能接觸。錫箔紙厚度為DX;
2 超薄材料需要疊加:疊加方式如下
250μ貼合6層后測試;
200μ貼合8層后測試;
175μ貼合9層后測試;
125μ貼合12層后測試;
100μ貼合15層后測試;
75μ貼合20層后測試;
50μ貼合30層后測試。
3 計算公式
Σ=(D2-2*DX)/D4
4 介質(zhì)損耗系數(shù)測試同理
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