介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀用于判斷電氣設(shè)備的絕緣狀況
測(cè)量介質(zhì)損耗的目的是判斷電氣設(shè)備的絕緣狀況。測(cè)量介質(zhì)損耗因數(shù)在預(yù)防性試驗(yàn)中是*的項(xiàng)目。因?yàn)殡姎庠O(shè)備介質(zhì)損耗因數(shù)太大,會(huì)使設(shè)備絕緣在交流電壓作用下,許多能量以熱的形式損耗,產(chǎn)生的熱量將升高電氣設(shè)備絕緣的溫度,使絕緣老化,甚至造成絕緣熱擊穿。絕緣能力的下降直接反映為介質(zhì)損耗因數(shù)的增大。進(jìn)一步就可以分析絕緣下降的原因,如:絕緣受潮、絕緣油受污染、老化變質(zhì)等等。所以,在出廠試驗(yàn)時(shí)要進(jìn)行此種試驗(yàn)。測(cè)量介質(zhì)損耗的同時(shí),也能得到試品的電容量,電容量的明顯變化,反映了多個(gè)電容中的一個(gè)或幾個(gè)發(fā)生短路、斷路。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀一般用于變電站、發(fā)電廠、車間、試驗(yàn)室、科研單位等環(huán)境現(xiàn)場(chǎng),主要針對(duì)各種高壓電力設(shè)備介損正切值及電容量進(jìn)行測(cè)量。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀其工作原理為,啟動(dòng)測(cè)量后高壓設(shè)定值送到變頻電源,變頻電源用PID算法將輸出緩速調(diào)整到設(shè)定值,測(cè)量電路將實(shí)測(cè)高壓送到變頻電源,微調(diào)低 壓,實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確高壓輸出。
根據(jù)正/反接線設(shè)置,測(cè)量電路根據(jù)試驗(yàn)電流自動(dòng)選擇輸入并切換量程,測(cè)量電路采用傅立葉變換濾掉干擾,分離出信號(hào)基波,對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電流 和試品電流進(jìn)行矢量運(yùn)算,幅值計(jì)算電容量,角差計(jì)算tgδ。
反復(fù)進(jìn)行多次測(cè)量,經(jīng)過排序選擇一個(gè)中間結(jié)果。測(cè)量結(jié)束,測(cè)量電路發(fā)出降壓指令變頻電源緩速降 壓到0。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀性能特點(diǎn):
1) 儀器采用復(fù)數(shù)電流法,測(cè)量電容、介質(zhì)損耗及其它參數(shù)。測(cè)試結(jié)果精度高,便于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)量;
2) 儀器采用了變頻技術(shù)來消除現(xiàn)場(chǎng)50Hz工頻干擾,即使在強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境下也能測(cè)得可靠的數(shù)據(jù);
3) 儀器采用大屏幕液晶顯示器,測(cè)試過程通過漢字菜單提示既直觀又便于操作;
4) 儀器操作簡(jiǎn)便,測(cè)量過程由微處理器控制,只要選擇好合適的測(cè)量方式,數(shù)據(jù)的測(cè)量就可在微處理器控制下自動(dòng)完成;
5) 一體化機(jī)型,內(nèi)附標(biāo)準(zhǔn)電容和高壓電源,便于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試,減少現(xiàn)場(chǎng)接線;
6) 儀器測(cè)量準(zhǔn)確度高,可滿足油介損測(cè)量要求,因此只需配備標(biāo)準(zhǔn)油杯,和測(cè)試線即可實(shí)現(xiàn)油介損測(cè)量;
7) 設(shè)CVT測(cè)試功能,可實(shí)現(xiàn)CVT的自激法測(cè)試,無需外置附件,只需一次測(cè)量,C1,C2的電容和介損全部測(cè)出;
8) 反接線測(cè)試采用ivddv技術(shù),消除了以往反接線數(shù)據(jù)不穩(wěn)定的現(xiàn)象;
9) 具有反接線低壓屏蔽功能,在220kV CVT 母線接地情況下,對(duì)C11 可進(jìn)行不拆線10kV 反接線介損測(cè)量;
10) 具有測(cè)量高電壓介損功能,能夠使用高壓變壓器或串聯(lián)諧振進(jìn)行超過10kV電壓的介損試驗(yàn);
11) 接地保護(hù)功能,當(dāng)儀器不接地線或接地不良時(shí),儀器不進(jìn)入正常程序,不輸出高壓。過流保護(hù)功能,在試品短路或擊穿時(shí)儀器不受損壞;
12) 觸電保護(hù)功能,當(dāng)儀器操作人員不小心觸電時(shí)候,儀器會(huì)立即切斷高壓,保障試驗(yàn)人員的安全。