一、介電常數介質損耗測試儀的創(chuàng)新設計,無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了的解決方案,它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具,測量值更為,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質,無須關注量程和換算單位。
二、介電常數介質損耗測試儀主要技術特性:
Q 值測量范圍: 2 ~ 1023,量程分檔:30100﹑300﹑1000,自動換檔或手動換檔
固有誤差:≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
工作誤差:≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ),≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
電感測量范圍: 4.5nH ~ 140mH
電容直接測量范圍: 1 ~ 200pF
主電容調節(jié)范圍: 18 ~ 220pF
主電容調節(jié)準確度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 %
信號源頻率覆蓋范圍: 100kHz ~ 160MHz
頻率分段 ( 虛擬 ): 100 ~ 999.999kHz, 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz,100 ~ 160MHz
頻率指示誤差 :3 × 10 -5 ± 1 個字
三、介電常數介質損耗測試儀夾具工作特性
1.平板電容器:
極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調范圍:≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率:0.001mm
四、介電常數介質損耗測試儀配置:
主機一臺
電感九支
夾具一套
隨機文件一套